<地点 >功率部件模块不支持所要求的循环
<地点 >编码器 2:超出每个采样速率的转速差值
<地点 >编码器 2 DRIVE-CLiQ(CU):电文故障
<地点 >编码器 2:参数错误设置
<地点 >编码器 3:串行记录中的故障位已设置
<地点 >编码器 3:信号 A或者 B振幅误差故障 (A^2 + B^2)
<地点 >VSM: CRC
<地点 >VSM DRIVE-CLiQ (CU):在发送 DRIVE-CLiQ数据时出错
<地点 >VSM DRIVE-CLiQ(CU):组件故障
<地点 >TM54F没有建立和驱动的有效数据通讯
<地点 >TM54F: 24 V 欠压
<地点 >TM:零标记同步中断
<地点 >TM DRIVE-CLiQ (CU):在发送 DRIVE-CLiQ 数据时出错
<地点 >TM:温度传感器出错
<地点 >励磁总信号故障
轴 %1机床数据 %2 无效数值
轴 %1机床数据 %2 值改变
[通道 %1: ] 程序段 %2: 超过了 %3保护区单元的昀大数目
[通道 %1: ]程序段 %2: $NP_ADD[%4]中参照的保护区单元 %3已经包含在定义链中。
[通道 %1: ] :两个保护区域 %2 和 %3 进行碰撞测试时存储空间不足。当时可用的存储空间: %4KB。